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文献
J-GLOBAL ID：200902220356340479
整理番号：07A0688358
Temperature Monitor:NROMTMメモリデバイスの新しい電荷分布プロファイリングツール
TEMPERATURE MONITOR: A NEW TOOL TO PROFILE CHARGE DISTRIBUTION IN NROM MEMORY DEVICES
AVITAL Lior
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
,
PADOVANI Andrea
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
LARCHER Luca
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
BLOOM Ilan
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
,
ARIE Ruzin
(Tel Aviv Univ., Ramat Aviv, ISR)
,
PAVAN Paolo
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
EITAN Boaz
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 44th Vol.2 ページ： 534-540 発行年： 2006年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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