文献
J-GLOBAL ID:200902220356340479
整理番号:07A0688358
Temperature Monitor:NROMTMメモリデバイスの新しい電荷分布プロファイリングツール
TEMPERATURE MONITOR: A NEW TOOL TO PROFILE CHARGE DISTRIBUTION IN NROM MEMORY DEVICES
著者 (7件):
AVITAL Lior
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
,
PADOVANI Andrea
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
LARCHER Luca
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
BLOOM Ilan
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
,
ARIE Ruzin
(Tel Aviv Univ., Ramat Aviv, ISR)
,
PAVAN Paolo
(Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, ITA)
,
EITAN Boaz
(Saifun Semiconductors, Ltd., Netanya, ISR)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
44th Vol.2
ページ:
534-540
発行年:
2006年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)