文献
J-GLOBAL ID:200902220727253370
整理番号:05A0578753
電子パッケージから信頼性欠陥を除去するための試験
TESTING TO ELIMINATE RELIABILITY DEFECTS FROM ELECTRONIC PACKAGES
著者 (1件):
MEMIS Irving
(Endicott Interconnect Technol., NY)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
43rd
ページ:
462-465
発行年:
2005年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)