文献
J-GLOBAL ID:200902220923976509
整理番号:05A0751875
分析的透過型電子顕微鏡
ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
著者 (1件):
SIGLE Wilfried
(Max-Planck-Inst. Metallforsch., Stuttgart)
資料名:
Annual Review of Materials Research
(Annual Review of Materials Research)
巻:
35
ページ:
239-268,268(1)-268(2),269-314
発行年:
2005年
JST資料番号:
D0856A
ISSN:
1531-7331
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)