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文献
J-GLOBAL ID：200902221161765692
整理番号：07A0117658
ディープサブミクロン集積回路の試験品質を向上し,試験コストの増加を抑える方法
A Way of Enhancing Test Quality and Restraining the Increase of Test Cost for Deep Sub-micron Integrated Circuits
DU Jun
(Beijing Microelectronics Technol. Inst., Beijing, CHN)
,
ZHAO Yuanfu
(Beijing Microelectronics Technol. Inst., Beijing, CHN)
,
YU Lixin
(Beijing Microelectronics Technol. Inst., Beijing, CHN)
資料名：
2005 6th International Conference on ASIC Proceedings, Book 2
(2005 6th International Conference on ASIC Proceedings, Book 2)
ページ： 669-672 発行年： 2005年
JST資料番号： K20060039 ISBN： 0-7803-9210-8 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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