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文献
J-GLOBAL ID：200902221995216793
整理番号：08A0626960
異なる回折面族を用いた単結晶に対する最新のX線応力解析
Advanced x-ray stress analysis method for a single crystal using different diffraction plane families
IMAFUKU Muneyuki
(Materials Characterization Center, Nippon Steel Technoresearch Corp., Futtsu, Chiba 293-0011, JPN)
,
SUZUKI Hiroshi
(Quantum Beam Sci. Directorate, Japan Atomic Energy Agency, Tokai, Naka-gun, Ibaraki 319-1195, JPN)
,
SUEYOSHI Kazuyuki
(Dep. of Mechanical Systems Engineering, Musashi Inst. of Technol., Setagaya, Tokyo 158-8557, JPN)
,
AKITA Koichi
(Dep. of Mechanical Systems Engineering, Musashi Inst. of Technol., Setagaya, Tokyo 158-8557, JPN)
,
OHYA Shin-ichi
(Dep. of Mechanical Systems Engineering, Musashi Inst. of Technol., Setagaya, Tokyo 158-8557, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 92 号： 23 ページ： 231903 発行年： 2008年06月09日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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