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文献
J-GLOBAL ID：200902222132430416
整理番号：06A0806204
放射光を利用した界面および局所構造解析 1 表面X線散乱法による電極/溶液界面のその場構造追跡
田村和久
(日本原子力研究開発機構)
,
水木純一郎
(日本原子力研究開発機構)
資料名：
電気化学および工業物理化学
(Electrochemistry)
巻： 74 号： 10 ページ： 828-833 発行年： 2006年10月05日
JST資料番号： G0072A ISSN： 1344-3542 CODEN： EECTFA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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