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文献
J-GLOBAL ID：200902222600823080
整理番号：08A1201540
ガラス基板上の分子線堆積GZO薄膜のドーピングプロファイルとナノ構造性質
Doping Profiles and Nanostructural Properties of Molecular-Beam-Deposited GZO Thin Films on Glass Substrates
MURANAKA T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
UEHARA T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
SAKANO T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
NABETANI Y.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
AKITSU T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
KATO T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
MATSUMOTO T.
(Univ. Yamanashi, Yamanashi, JPN)
,
HAGIHARA S.
(Yamanashi Industrial Technol. Center, Yamanashi, JPN)
,
ABE O.
(Yamanashi Industrial Technol. Center, Yamanashi, JPN)
,
HIRAKI S.
(Nakaya Corp., Yamanashi, JPN)
,
FUJIKAWA Y.
(Nakaya Corp., Yamanashi, JPN)
資料名：
Journal of the Korean Physical Society
(Journal of the Korean Physical Society)
巻： 53 号： 5 Pt.2 ページ： 2897-2900 発行年： 2008年11月15日
JST資料番号： T0357A ISSN： 0374-4884 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 韓国 (KOR) 言語： 英語 (EN)
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