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文献
J-GLOBAL ID：200902222777981034
整理番号：05A0764933
超電導材料特性計測技術-マッピング技術の進展を中心として-第三高調波誘導法による超電導体の臨界電流密度の評価-超電導薄膜・バルク材の臨界電流密度-
Evaluation of Critical Current Density in Superconductors by an Inductive Method Measuring Third-harmonic Voltages-Critical Current Density in Superconducting Films and Bulk Materials-
馬渡康徳
(産業技術総合研 エネルギー技術研究部門)
,
山崎裕文
(産業技術総合研 エネルギー技術研究部門)
,
中川愛彦
(産業技術総合研 エネルギー技術研究部門)
資料名：
低温工学
(Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan)
巻： 40 号： 8 ページ： 346-353 発行年： 2005年08月25日
JST資料番号： S0846A ISSN： 0389-2441 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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