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文献
J-GLOBAL ID：200902222952386640
整理番号：05A1045226
HOPG基板上の高拡大-ナノメータスケールAu粒子におけるSEMイメージ分解能評価のための参照試料
Reference sample for the evaluation of SEM image resolution at a high magnification-nanometer-scale Au particles on an HOPG substrate
OKAYAMA Shigeo
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
HARAICHI Satoshi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
MATSUHATA Hirofumi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名：
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻： 54 号： 4 ページ： 345-350 発行年： 2005年08月
JST資料番号： W1384A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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