文献
J-GLOBAL ID:200902224412287638
整理番号:08A0979151
4インチシリコン基板上の1.8kV以上の高いブレークダウン電圧を持つ高電力AlGaN/GaN HFETおよび電流コラプスの抑制
High power AlGaN/GaN HFET with a high breakdown voltage of over 1.8kV on 4 inch Si substrates and the suppression of current collapse
著者 (6件):
IKEDA Nariaki
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
KAYA Syuusuke
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
LI Jiang
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
SATO Yoshihiro
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
KATO Sadahiro
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
YOSHIDA Seikoh
(Furukawa Electric Co., Ltd., Kanagawa, JPN)
資料名:
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs
(Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)
巻:
20th
ページ:
287-290
発行年:
2008年
JST資料番号:
W1300A
ISSN:
1943-653X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)