文献
J-GLOBAL ID:200902224607130270
整理番号:04A0323388
HfxSi1-xO2堆積用のHfとSi先行体蒸気圧の飽和ガス法による評価
Vapor Pressure of Hf and Si Precursors for HfxSi1-xO2 Deposition Evaluated by a Saturated Gas Technique
著者 (5件):
MACHIDA H
(TRI Chemical Lab. Inc., Yamanashi, JPN)
,
KADA T
(TRI Chemical Lab. Inc., Yamanashi, JPN)
,
ISHIKAWA M
(TRI Chemical Lab. Inc., Yamanashi, JPN)
,
OGURA A
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
OHSHITA Y
(Toyota Technological Inst., Nagoya, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
43
号:
3
ページ:
966-967
発行年:
2004年03月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)