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文献
J-GLOBAL ID:200902224826189409   整理番号:07A1233072

GaInN/GaN発光ダイオードにおける効率低下に及ぼす転位密度の影響

Effect of dislocation density on efficiency droop in GaInN/GaN light-emitting diodes
著者 (10件):
SCHUBERT Martin F.
(Future Chips Constellation, Dep. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Rensselaer Polytechnic Inst. ...)
CHHAJED Sameer
(Future Chips Constellation, Dep. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Rensselaer Polytechnic Inst. ...)
KIM Jong Kyu
(Future Chips Constellation, Dep. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Rensselaer Polytechnic Inst. ...)
SCHUBERT E. Fred
(Future Chips Constellation, Dep. of Electrical, Computer, and Systems Engineering, Rensselaer Polytechnic Inst. ...)
KOLESKE Daniel D.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
CRAWFORD Mary H.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
LEE Stephen R.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
FISCHER Arthur J.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
THALER Gerald
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)
BANAS Michael A.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185, USA)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 91  号: 23  ページ: 231114-231114-3  発行年: 2007年12月03日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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