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文献
J-GLOBAL ID：200902226532102090
整理番号：04A0614354
JFETのゲート電圧雑音の追跡に使用される相関関係測定
Cross-correlation measurements in searching for a trace of the gate voltage noise in a JFET
HASHIGUCHI S
(Univ. Yamanashi, Kofu, JPN)
,
HOSONO S
(Koito Ind., Ltd., Yokohama, JPN)
,
OHKI M
(Univ. Yamanashi, Kofu, JPN)
,
TACANO M
(Meisei Univ., Hino, JPN)
,
SIKULA J
(Brno Univ. Technol., Brno, CZE)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 5470 ページ： 529-537 発行年： 2004年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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