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文献
J-GLOBAL ID：200902227620240067
整理番号：09A0537412
非弾性電子トンネル分光法によるトンネル接合におけるAlOx障壁酸化状態の評価
Estimation of oxidation states of AlO x barriers in a tunneling junction by inelastic electron tunneling spectroscopy
HORIKIRI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
,
MORIZUMI M.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
,
SHIIKI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 517 号： 18 ページ： 5576-5579 発行年： 2009年07月31日
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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