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文献
J-GLOBAL ID:200902227620240067   整理番号:09A0537412

非弾性電子トンネル分光法によるトンネル接合におけるAlOx障壁酸化状態の評価

Estimation of oxidation states of AlO x barriers in a tunneling junction by inelastic electron tunneling spectroscopy
著者 (3件):
HORIKIRI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
MORIZUMI M.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)
SHIIKI K.
(Dep. of Applied Physics and Physico-Informatics, Keio Univ., 3-14-1, Hiyoshi, Kohoku-ku, Yokohama, Kanagawa ...)

資料名:
Thin Solid Films  (Thin Solid Films)

巻: 517  号: 18  ページ: 5576-5579  発行年: 2009年07月31日 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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