文献
J-GLOBAL ID:200902227790939103
整理番号:05A0792104
超痕跡分析に向けた表面増強Raman散乱基材のプラズモン工学における進歩
Progress in plasmonic engineering of surface-enhanced Raman-scattering substrates toward ultra-trace analysis
著者 (2件):
MOORE David S
(Los Alamos National Lab., NM, USA)
,
BAKER Gary A
(Oak Ridge National Lab., TN, USA)
資料名:
Analytical & Bioanalytical Chemistry
(Analytical & Bioanalytical Chemistry)
巻:
382
号:
8
ページ:
1751-1770
発行年:
2005年08月
JST資料番号:
E0425B
ISSN:
1618-2642
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)