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文献
J-GLOBAL ID：200902228737717162
整理番号：07A0059205
歪Si・nMOSFETにおける低周波雑音特性
Low-Frequency Noise Characteristics in Strained-Si nMOSFETs
WANG Yen Ping
(National Cheng-Kung Univ., Tainan, TWN)
,
WU San Lein
(National Cheng-Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHANG Shoou Jinn
(Cheng Shiu Univ., Kaohsiung, TWN)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 28 号： 1 ページ： 36-38 発行年： 2007年01月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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