前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:200902228929836440   整理番号:05A0995062

ステップ高さ試料における基礎直線に関連するパラメータの信頼性:ナノメータ計測AFMを用いたステップ高さ測定における不確実性評価

Reliability of parameters of associated base straight line in step height samples: Uncertainty evaluation in step height measurements using nanometrological AFM
著者 (9件):
MISUMI Ichiko
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
GONDA Satoshi
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
KUROSAWA Tomizo
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
AZUMA Yasushi
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
FUJIMOTO Toshiyuki
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
KOJIMA Isao
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (NMIJ/AIST), Tsukuba ...)
SAKURAI Toshihisa
(Tohoku Univ., Aza-Aoba 10, Aramaki, Aoba-ku, Sendai 980-8579, JPN)
OHMI Tadahiro
(Tohoku Univ., Aza-Aoba 10, Aramaki, Aoba-ku, Sendai 980-8579, JPN)
TAKAMASU Kiyoshi
(The Univ. of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8654, JPN)

資料名:
Precision Engineering  (Precision Engineering)

巻: 30  号:ページ: 13-22  発行年: 2006年01月 
JST資料番号: A0734B  ISSN: 0141-6359  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。