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J-GLOBAL ID：200902229113831749 整理番号：05A0465312

超伝導薄膜のハイパワーマイクロ波特性の測定法

Measurement of High Power Microwave Properties of Superconductor Films

著者 (2件)：

小原春彦

(産総研エネルギー技術研究部門)

幸坂紳

(産総研エネルギー技術研究部門)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 105 号： 33(SCE2005 1-11) ページ： 51-54 発行年： 2005年04月20日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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