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文献
J-GLOBAL ID:200902229213566287   整理番号:09A0862976

ドープした珪素の硬X線光電子分光法

Hard X-ray photoelectron spectroscopy of doped Silicon
著者 (17件):
CHAINANI A.
(理研)
CHAINANI A.
(東北大 理)
TANAKA Yasutaka
(理研)
EGUCHI Ritsuko
(理研)
EGUCHI Ritsuko
(東大 物性研)
OHTSUKI Takumi
(理研)
MATSUNAMI Masaharu
(理研)
MATSUNAMI Masaharu
(東大 物性研)
NISHINO Yoshinori
(理研)
TAMASAKU Kenji
(理研)
YABASHI Makina
(JASRI)
TAKAHASHI Takashi
(東北大 理)
YOSHIDA Hiroshi
(大阪大 基礎工)
ISHIKAWA Tetsuya
(理研)
ISHIKAWA Tetsuya
(JASRI)
SHIN Shigi
(理研)
SHIN Shigi
(東大 物性研)

資料名:
日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)

巻: 64  号: 2 第4分冊  ページ: 647  発行年: 2009年08月18日 
JST資料番号: S0671B  ISSN: 1342-8349  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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