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文献
J-GLOBAL ID：200902230128432717
整理番号：03A0362177
トモグラフィーX線吸収分光法を用いた試料内部の元素の化学状態マッピング
Mapping the chemical states of an element inside a sample using tomographic x-ray absorption spectroscopy
SCHROER C G
(Aachen Univ., Aachen, DEU)
,
LENGELER B
(Aachen Univ., Aachen, DEU)
,
RICHWIN M
(Bergische Univ. Wuppertal, Wuppertal, DEU)
,
FRAHM R
(Bergische Univ. Wuppertal, Wuppertal, DEU)
,
ZIEGLER E
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
,
MASHAYEKHI A
(Argonne National Lab., Illinois)
,
HAEFFNER D R
(Argonne National Lab., Illinois)
,
GRUNWALDT J-D
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
,
BAIKER A
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 82 号： 19 ページ： 3360-3362 発行年： 2003年05月12日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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