文献
J-GLOBAL ID:200902230998073097
整理番号:08A1231563
近接場複屈折率測定による液晶膜の垂直配向プロファイリングとアンカリング効果の直接評価
Direct Evaluation of Anchoring Effects and Vertical Orientation Profiling of Liquid Crystal Films by Near-Field Birefringence Measurement
著者 (3件):
QIN Jing
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
,
IWAMI Kentaro
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
,
UMEDA Norihiro
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
1
号:
11
ページ:
111501.1-111501.3
発行年:
2008年11月25日
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)