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文献
J-GLOBAL ID：200902234042192573
整理番号：09A0934594
大規模DMA-TEGのVT変化におけるNMOS及びPMOS差の解析
Analysis of NMOS and PMOS Difference in VT Variation With Large-Scale DMA-TEG
TSUNOMURA Takaaki
(Millennium Res. Advanced Information Technol.-Semiconductor Leading Edge Technol., Inc.(MIRAI-Selete), Tsukuba, JPN)
,
NISHIDA Akio
(Millennium Res. Advanced Information Technol.-Semiconductor Leading Edge Technol., Inc.(MIRAI-Selete), Tsukuba, JPN)
,
HIRAMOTO Toshiro
(Millennium Res. Advanced Information Technol.-Semiconductor Leading Edge Technol., Inc.(MIRAI-Selete), Tsukuba, JPN)
,
HIRAMOTO Toshiro
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 56 号： 9 ページ： 2073-2080 発行年： 2009年09月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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