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文献
J-GLOBAL ID：200902234460799344
整理番号：03A0783196
X線異常回折で調べた単結晶CaFeO3薄膜における電荷秩序状態
Charge-Ordered State in Single-Crystalline CaFeO3 Thin Film Studied by X-Ray Anomalous Diffraction
AKAO T
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
AZUMA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
USUDA M
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
NISHIHATA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
MIZUKI J
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
HAMADA N
(Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
HAYASHI N
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
TERASHIMA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
TAKANO M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 91 号： 15 ページ： 156405.1-156405.4 発行年： 2003年10月10日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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