文献
J-GLOBAL ID:200902235088604120
整理番号:04A0357157
正確に(001)配向したGe/Si仮想基板上へのGaAsベース構造の直接成長:構造欠陥密度の低減とCW電気注入下の室温でのエレクトロルミネセンスの観察
Direct growth of GaAs-based structures on exactly (001)-oriented Ge/Si virtual substrates: reduction of the structural defect density and observation of electroluminescence at room temperature under CW electrical injection
著者 (9件):
CHRIQUI Y
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
LARGEAU L
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
PATRIARCHE G
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
SAINT-GIRONS G
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
BOUCHOULE S
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
SAGNES I
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
,
BENSAHEL D
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)
,
CAMPIDELLI Y
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)
,
KERMARREC O
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
265
号:
1/2
ページ:
53-59
発行年:
2004年04月15日
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)