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J-GLOBAL ID:200902235088604120   整理番号:04A0357157

正確に(001)配向したGe/Si仮想基板上へのGaAsベース構造の直接成長:構造欠陥密度の低減とCW電気注入下の室温でのエレクトロルミネセンスの観察

Direct growth of GaAs-based structures on exactly (001)-oriented Ge/Si virtual substrates: reduction of the structural defect density and observation of electroluminescence at room temperature under CW electrical injection
著者 (9件):
CHRIQUI Y
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
LARGEAU L
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
PATRIARCHE G
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
SAINT-GIRONS G
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
BOUCHOULE S
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
SAGNES I
(Lab. Photonique et de Nanostructures, CNRS, Marcoussis, FRA)
BENSAHEL D
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)
CAMPIDELLI Y
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)
KERMARREC O
(ST Microelectronics, Crolles, FRA)

資料名:
Journal of Crystal Growth  (Journal of Crystal Growth)

巻: 265  号: 1/2  ページ: 53-59  発行年: 2004年04月15日 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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