文献
J-GLOBAL ID:200902235292763912
整理番号:06A0059204
二酸化けい素層の蒸着に起因する多結晶シリコン薄膜での(111)ナノ双晶ラメラ状ヒロックの形成
Formation of (111) nanotwin lamellae hillocks in polycrystalline silicon thin films caused by deposition of silicon dioxide layer
著者 (2件):
IMAI Shigeki
(System Solutions Planning Dep., Electronic Components & Devices, Sharp Corp., 2613-1, Ichinomoto-cho, Tenri, Nara ...)
,
FUJIMOTO Masayuki
(Graduate School of Electronic Sci. and Technol., Shizuoka Univ., 3-5-1 Jyouhoku, Hamamatsu 432-8561, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
88
号:
2
ページ:
021912-021912-3
発行年:
2006年01月09日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)