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文献
J-GLOBAL ID：200902235446722610
整理番号：08A0629790
Phebus FP試験における照射後試験(PIE)から導出した集合体の劣化挙動
Bundle degradation behaviour in the Phebus FP tests derived from their post irradiation examination (PIE)
BOTTOMLEY D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
SCHLUTIG S.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
BREMIER S.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
BARRACHIN M.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
DE BREMAECKER A.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
WALKER C.T.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
GLATZ J-P.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
PAPAIOANNOU D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
ARNOULT J-L.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
BAUDOT D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
SIMONDI-TEISSEIRE B.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
RESTANI R.
(Paul Scherrer Inst.(PSI), Villigen, CHE)
,
GAVILLET D.
(Paul Scherrer Inst.(PSI), Villigen, CHE)
資料名：
Transactions of the American Nuclear Society
(Transactions of the American Nuclear Society)
巻： 98 ページ： 274-275 発行年： 2008年
JST資料番号： E0387B ISSN： 0003-018X CODEN： TANSAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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