文献
J-GLOBAL ID:200902235446722610
整理番号:08A0629790
Phebus FP試験における照射後試験(PIE)から導出した集合体の劣化挙動
Bundle degradation behaviour in the Phebus FP tests derived from their post irradiation examination (PIE)
著者 (13件):
BOTTOMLEY D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
SCHLUTIG S.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
BREMIER S.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
BARRACHIN M.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
DE BREMAECKER A.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
WALKER C.T.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
GLATZ J-P.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
PAPAIOANNOU D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
ARNOULT J-L.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
BAUDOT D.
(Inst. Transuranium Elements(ITU), Karlsruhe, DEU)
,
SIMONDI-TEISSEIRE B.
(Inst. radioprotection et surete nucleaire(IRSN), St. Paul-lez-Durance, FRA)
,
RESTANI R.
(Paul Scherrer Inst.(PSI), Villigen, CHE)
,
GAVILLET D.
(Paul Scherrer Inst.(PSI), Villigen, CHE)
資料名:
Transactions of the American Nuclear Society
(Transactions of the American Nuclear Society)
巻:
98
ページ:
274-275
発行年:
2008年
JST資料番号:
E0387B
ISSN:
0003-018X
CODEN:
TANSAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)