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文献
J-GLOBAL ID：200902236009952840
整理番号：05A0549817
X線干渉法に基づくコヒーレンス-コントラストX線イメージング
Coherence-contrast x-ray imaging based on x-ray interferometry.
YONEYAMA Akio
(Hitachi Ltd., Saitama, JPN)
,
TAKEDA Tohoru
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
TSUCHIYA Yoshinori
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
WU Jin
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
LWIN Thet-Thet
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
HYODO Kazuyuki
(Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
資料名：
Applied Optics
(Applied Optics)
巻： 44 号： 16 ページ： 3258-3261 発行年： 2005年06月01日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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