文献
J-GLOBAL ID:200902236440763710
整理番号:04A0683464
システムオンチップ相互接続のための高レベルクロストーク欠陥シミュレーション法
High-Level Crosstalk Defect Simulation Methodology for System-on-Chip Interconnects
著者 (2件):
BAI X
(Univ. California, CA, USA)
,
DEY S
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
23
号:
9
ページ:
1355-1361
発行年:
2004年09月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)