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文献
J-GLOBAL ID：200902237010446840
整理番号：07A0856985
非晶質シリコンフォトダイオード構造を用いる走査光誘起インピーダンス顕微鏡観察
Scanning Photoinduced Impedance Microscopy Using Amorphous Silicon Photodiode Structures
KRAUSE Steffi
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
,
CHEN Li
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
,
ZHOU Yinglin
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
,
CHAZALVIEL Jean-Noel
(Ecole Polytechnique, CNRS, Palaiseau, FRA)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 79 号： 16 ページ： 6208-6214 発行年： 2007年08月15日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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