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文献
J-GLOBAL ID：200902237293674754
整理番号：08A0541593
77Kに於ける有機金属CVD法でYBCOを被覆したコンダクタの繰り返しストレス印加による疲労損傷の二つの異なるメカニズム
Two different mechanisms of fatigue damage due to cyclic stress loading at 77 K for MOCVD-YBCO-coated conductors
SUGANO M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIDA Y
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
HOJO M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SHIKIMACHI K
(Chubu Electric Power Co., Nagoya, JPN)
,
HIRANO N
(Chubu Electric Power Co., Nagoya, JPN)
,
NAGAYA S
(Chubu Electric Power Co., Nagoya, JPN)
資料名：
Superconductor Science and Technology
(Superconductor Science and Technology)
巻： 21 号： 5 ページ： 054006,1-10 発行年： 2008年05月
JST資料番号： T0607A ISSN： 0953-2048 CODEN： SUSTEF 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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