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文献
J-GLOBAL ID：200902237527374458
整理番号：05A0066353
光反射分光法によるMFIS構造の記憶状態の無電極キャラクタリゼーション
Electrodeless Characterization of Memorized States of MFIS Structure by Photoreflectance Spectroscopy
SOHGAWA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
YOSHIDA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
KANASHIMA T
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
OKUYAMA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
FUJIMOTO A
(Wakayama National Coll. Technol., Wakayama, JPN)
資料名：
Journal of the Korean Physical Society
(Journal of the Korean Physical Society)
巻： 46 号： 1 ページ： 262-264 発行年： 2005年01月15日
JST資料番号： T0357A ISSN： 0374-4884 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 韓国 (KOR) 言語： 英語 (EN)
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