文献
J-GLOBAL ID:200902237527374458
整理番号:05A0066353
光反射分光法によるMFIS構造の記憶状態の無電極キャラクタリゼーション
Electrodeless Characterization of Memorized States of MFIS Structure by Photoreflectance Spectroscopy
著者 (5件):
SOHGAWA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
YOSHIDA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
KANASHIMA T
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
OKUYAMA M
(Osaka Univ., Toyonaka, JPN)
,
FUJIMOTO A
(Wakayama National Coll. Technol., Wakayama, JPN)
資料名:
Journal of the Korean Physical Society
(Journal of the Korean Physical Society)
巻:
46
号:
1
ページ:
262-264
発行年:
2005年01月15日
JST資料番号:
T0357A
ISSN:
0374-4884
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
韓国 (KOR)
言語:
英語 (EN)