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文献
J-GLOBAL ID：200902238810377524
整理番号：08A0569200
UVパルスレーザを伴う迅速TOFシステムを用いてのダイヤモンド薄膜中の電荷キャリアの動特性の測定
Measurement of charge carrier dynamics in diamond thin films using a fast TOF system with a UV pulsed laser
OSHIKI Y.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
KANEKO J.h.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
FUJITA F.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
HOMMA A.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
WATANABE H.
(Advanced Industrial Sci. and Technol., JPN)
,
MEGURO K.
(Sumitomo Electric Industries, Ltd., JPN)
,
YAMAMOTO Y.
(Sumitomo Electric Industries, Ltd., JPN)
,
IMAI T.
(Sumitomo Electric Industries, Ltd., JPN)
,
SATO K.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
TSUJI K.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
KAWAMURA S.
(Hokkaido Univ., JPN)
,
FURUSAKA M.
(Hokkaido Univ., JPN)
資料名：
Diamond and Related Materials
(Diamond and Related Materials)
巻： 17 号： 4-5 ページ： 833-837 発行年： 2008年04月
JST資料番号： W0498A ISSN： 0925-9635 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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