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文献
J-GLOBAL ID：200902239188902450
整理番号：06A0540358
形状測定とトモグラフィーのための周波数コムを用いた干渉計
Frequency-comb-based interferometer for profilometry and tomography
CHOI Samuel
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
,
YAMAMOTO Mitsufumi
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
,
MOTEKI Daisuke
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
,
SHIODA Tatsutoshi
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
,
TANAKA Yosuke
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
,
KUROKAWA Takashi
(Dep. of Technol., Tokyo Univ. of Agriculture and Technol., 2-24-16 Naka-cho, Koganei-shi, Tokyo 184-8588, JPN)
資料名：
Optics Letters
(Optics Letters)
巻： 31 号： 13 ページ： 1976-1978 発行年： 2006年07月01日
JST資料番号： H0690A ISSN： 0146-9592 CODEN： OPLEDP 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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