文献
J-GLOBAL ID:200902239325930459
整理番号:03A0508238
横シヤ波長走査干渉計を用いた透明板の屈折率と膜厚の測定法
Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates with a lateral-shear, wavelength-scanning interferometer.
著者 (4件):
COPPOLA G
(Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA)
,
FERRARO P
(Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA)
,
IODICE M
(Inst. Microelettronica e i Microsistemi, CNR, Naples, ITA)
,
DE NICOLA S
(Inst. Cibernetica “E. Caianiello”, CNR, Pozzuoli(Naples), ITA)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
42
号:
19
ページ:
3882-3887
発行年:
2003年07月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)