文献
J-GLOBAL ID:200902240398790262
整理番号:06A0052156
けい素上での界面活性剤増強脱離/イオン化質量分析法
Surfactant-Enhanced Desorption/Ionization on Silicon Mass Spectrometry
著者 (5件):
SIUZDAK Gary
(Scripps Res. Inst., California)
,
APON Junefredo V
(Scripps Res. Inst., California)
,
URITBOONTHAI Wilasinee
(Scripps Res. Inst., California)
,
GO Eden P
(Scripps Res. Inst., California)
,
NORDSTROEM Anders
(Scripps Res. Inst., California)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
78
号:
1
ページ:
272-278
発行年:
2006年01月01日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)