文献
J-GLOBAL ID:200902240848595600
整理番号:08A0996455
RFスパッタリング法で作製したGe/TiO2薄膜中のアナターゼ優勢基質
Anatase-Dominant Matrix in Ge/TiO2 Thin Films Prepared by RF Sputtering Method
著者 (4件):
ABE Seishi
(Res. Inst. Electric and Magnetic Materials, Sendai, JPN)
,
OHNUMA Masato
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
PING De Hai
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
OHNUMA Shigehiro
(Res. Inst. Electric and Magnetic Materials, Sendai, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
1
号:
9
ページ:
095001.1-095001.3
発行年:
2008年09月25日
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)