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文献
J-GLOBAL ID:200902240848595600   整理番号:08A0996455

RFスパッタリング法で作製したGe/TiO2薄膜中のアナターゼ優勢基質

Anatase-Dominant Matrix in Ge/TiO2 Thin Films Prepared by RF Sputtering Method
著者 (4件):
ABE Seishi
(Res. Inst. Electric and Magnetic Materials, Sendai, JPN)
OHNUMA Masato
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
PING De Hai
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
OHNUMA Shigehiro
(Res. Inst. Electric and Magnetic Materials, Sendai, JPN)

資料名:
Applied Physics Express  (Applied Physics Express)

巻:号:ページ: 095001.1-095001.3  発行年: 2008年09月25日 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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