文献
J-GLOBAL ID:200902241249787344
整理番号:06A0896389
走査型非線形誘電率顕微鏡における導電性カーボンナノチューブプローブチップの使用
Using an electroconductive carbon nanotube probe tip in scanning nonlinear dielectric microscopy
著者 (2件):
ISHIKAWA K.
(Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai, Miyagi 980-8577, JPN)
,
CHO Y.
(Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai, Miyagi 980-8577, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
77
号:
10
ページ:
103708-103708-4
発行年:
2006年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)