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文献
J-GLOBAL ID：200902242055515617
整理番号：06A0749488
強誘電体薄膜 材料,特性,及び応用のレビュー
Ferroelectric thin films: Review of materials, properties, and applications
SETTER N.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol. (EPFL), CH-1015 Lausanne, CHE)
,
DAMJANOVIC D.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol. (EPFL), CH-1015 Lausanne, CHE)
,
ENG L.
(Inst. of Applied Physics/Photophysics, Univ. of Technol. Dresden, Dresden D-01062, DEU)
,
FOX G.
(Ramtron Int. Corp., Colorado Springs, Colorado 80921)
,
GEVORGIAN S.
(Dep. of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers Univ. of Technol., SE-41296 Gothenburg, Sweden and Microwave and ...)
,
HONG S.
(Nano Devices Lab., Samsung Advanced Inst. of Technol., Suwon, 440-600, KOR)
,
KINGON A.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, North Carolina State Univ., Raleigh, North Carolina 27695-7919)
,
KOHLSTEDT H.
(Inst. fuer Festkoerperforschung (IFF), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, DEU)
,
PARK N. Y.
(Nano Devices Lab., Samsung Advanced Inst. of Technol., Suwon, 440-600, KOR)
,
STEPHENSON G. B.
(Materials Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439)
,
STOLITCHNOV I.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
,
TAGANSTEV A. K.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
,
TAYLOR D. V.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
,
YAMADA T.
(Ceramics Lab., Swiss Federal Inst. of Technol., EPFL, CH-1015 Lausanne, CHE)
,
STREIFFER S.
(Materials Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 100 号： 5 ページ： 051606-051606-46 発行年： 2006年09月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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