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文献
J-GLOBAL ID：200902242793549968
整理番号：06A0916180
高-角度環状暗-視野走査透過電子顕微鏡法のイメージングおよびGaN-ベース紫レーザーダイオードの観察
Imaging of high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy and observations of GaN-based violet laser diodes
SHIOJIRI M.
(Kanazawa Medical Univ., Iahikawa, JPN)
,
SHIOJIRI M.
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
SAIJO H.
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 223 号： 3 ページ： 172-178 発行年： 2006年09月
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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