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文献
J-GLOBAL ID：200902242932949682
整理番号：07A0915218
Ge-Si液体合金のシンクロトロン放射を用いたX線回折測定
X-ray diffraction measurements for liquid Ge-Si alloys using synchrotron radiation
NAITO Y.
(Graduate School of Biosphere Sci., Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
INUI M.
(Graduate School of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Kagamiyama 1-7-1, Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
ANAI T.
(Fac. of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
,
TAMURA K.
(Graduate School of Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 606-8501, JPN)
資料名：
Journal of Non-Crystalline Solids
(Journal of Non-Crystalline Solids)
巻： 353 号： 32-40 ページ： 3376-3379 発行年： 2007年10月15日
JST資料番号： D0642A ISSN： 0022-3093 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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