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文献
J-GLOBAL ID:200902242932949682   整理番号:07A0915218

Ge-Si液体合金のシンクロトロン放射を用いたX線回折測定

X-ray diffraction measurements for liquid Ge-Si alloys using synchrotron radiation
著者 (4件):
NAITO Y.
(Graduate School of Biosphere Sci., Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
INUI M.
(Graduate School of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Kagamiyama 1-7-1, Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
ANAI T.
(Fac. of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN)
TAMURA K.
(Graduate School of Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 606-8501, JPN)

資料名:
Journal of Non-Crystalline Solids  (Journal of Non-Crystalline Solids)

巻: 353  号: 32-40  ページ: 3376-3379  発行年: 2007年10月15日 
JST資料番号: D0642A  ISSN: 0022-3093  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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