文献
J-GLOBAL ID:200902243814753559
整理番号:05A0154223
超高性能用途のための金属ゲート電極を持つサブ30nm,マルチブリッジチャネルMOSFET(MBCFET)
Sub 30nm Multi-Bridge-Channel MOSFET (MBCFET) with Metal Gate Electrode for Ultra High Performance Application
著者 (9件):
YOON E-J
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
LEE S-Y
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
KIM S-M
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
KIM M-S
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
KIM S H
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
MING L
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
SUK S
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
YEO K
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
,
OH C W
(Samsung Electronics, Kyoungi-Do, KOR)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
2004
ページ:
627-630
発行年:
2004年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)