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文献
J-GLOBAL ID：200902245085320062
整理番号：06A0938805
コア型システムオンチップ集積回路のための熱安全テストスケジューリング
Thermal-Safe Test Scheduling for Core-Based System-on-Chip Integrated Circuits
ROSINGER Paul
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
AL-HASHIMI Bashir M.
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
CHAKRABARTY Krishnendu
(Duke Univ., NC, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 25 号： 11 ページ： 2502-2512 発行年： 2006年11月
JST資料番号： B0142C ISSN： 0278-0070 CODEN： ITCSDI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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