文献
J-GLOBAL ID:200902245277074634
整理番号:05A0679766
分子線エピタキシャル法によってGaNの下地上に成長させた微細構造を持つN-極性のInN/InGaN多重量子井戸
Fine-structure N-polarity InN/InGaN multiple quantum wells grown on GaN underlayer by molecular-beam epitaxy
著者 (7件):
CHE Song-Bek
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
TERASHIMA Wataru
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
ISHITANI Yoshihiro
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
YOSHIKAWA Akihiko
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
MATSUDA Takeyoshi
(Furukawa Electric Co., Ltd., Yokohama, JPN)
,
ISHII Hirotatsu
(Furukawa Electric Co., Ltd., Yokohama, JPN)
,
YOSHIDA Seikoh
(Furukawa Electric Co., Ltd., Yokohama, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
86
号:
26
ページ:
261903.1-261903.3
発行年:
2005年06月27日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)