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文献
J-GLOBAL ID：200902246112866320
整理番号：06A0152015
遅延試験用の統計的品質モデル
A Statistical Quality Model for Delay Testing
SATO Yasuo
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center, Yokohama-shi, JPN)
,
HAMADA Shuji
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center, Yokohama-shi, JPN)
,
MAEDA Toshiyuki
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center, Yokohama-shi, JPN)
,
TAKATORI Atsuo
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center, Yokohama-shi, JPN)
,
KAJIHARA Seiji
(Kyushu Inst. of Technol., Iizuka-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E89-C 号： 3 ページ： 349-355 発行年： 2006年03月01日
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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