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文献
J-GLOBAL ID：200902246557567080
整理番号：06A0012310
最先端半導体技術における放射線起因ソフトエラー
Radiation-Induced Soft Errors in Advanced Semiconductor Technologies
BAUMANN Robert C.
(Texas Instruments, TX, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 5 号： 3 ページ： 305-316 発行年： 2005年09月
JST資料番号： W1320A ISSN： 1530-4388 CODEN： ITDMA2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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