文献
J-GLOBAL ID:200902246682101025
整理番号:06A0996614
MgOバッファを持ったサファイア上に分子ビームエピタクシーによって成長させたZnO薄膜の構造評価
Structural characterization of ZnO films grown by molecular beam epitaxy on sapphire with MgO buffer
著者 (6件):
PECZ B.
(Res. Inst. for Technical Physics and Materials Sci., Hungarian Acad. of Sciences, P.O. Box 49, H-1525 Budapest, HUN)
,
EL-SHAER A.
(Inst. of Semiconductor Technol., Technical Univ. Braunschweig, Hans-Sommer-Strasse 66, D-38106 Braunschweig, DEU)
,
BAKIN A.
(Inst. of Semiconductor Technol., Technical Univ. Braunschweig, Hans-Sommer-Strasse 66, D-38106 Braunschweig, DEU)
,
MOFOR A.-c.
(Inst. of Semiconductor Technol., Technical Univ. Braunschweig, Hans-Sommer-Strasse 66, D-38106 Braunschweig, DEU)
,
WAAG A.
(Inst. of Semiconductor Technol., Technical Univ. Braunschweig, Hans-Sommer-Strasse 66, D-38106 Braunschweig, DEU)
,
STOEMENOS J.
(Physics Dep., Aristotle Univ., Univ. Campus, 54006 Thessaloniki, GRC)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
100
号:
10
ページ:
103506-103506-7
発行年:
2006年11月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)