文献
J-GLOBAL ID:200902247137586670
整理番号:05A0059837
集束イオンビーム技法とその透過電子顕微鏡観察における応用のレビュー
A review of focused ion beam technology and its applications in transmission electron microscopy
著者 (2件):
SUGIYAMA M
(Nippon Steel Corp., Chiba, JPN)
,
SIGESATO G
(Nippon Steel Corp., Chiba, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
53
号:
5
ページ:
527-536
発行年:
2004年
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)