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文献
J-GLOBAL ID：200902248153625054
整理番号：04A0658163
電解液充填マイクロピペットプローブを備える走査型せん断力顕微鏡によるナノメータスケールの金属めっき
Nanometer-Scale Metal Plating Using a Scanning Shear-Force Microscope with an Electrolyte-Filled Micropipette Probe
IWATA F
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
SUMIYA Y
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
SASAKI A
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43 号： 7B ページ： 4482-4485 発行年： 2004年07月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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