文献
J-GLOBAL ID:200902248522754572
整理番号:06A0173268
IC設計の精密モデリングに対するディ-エンベッディング(De-Embedding)伝送線路測定
De-Embedding Transmission Line Measurements for Accurate Modeling of IC Designs
著者 (4件):
MANGAN Alain M.
(Univ. Toronto, ON, CAN)
,
VOINIGESCU Sorin P.
(Univ. Toronto, ON, CAN)
,
YANG Ming-Ta
(TSMC, Hsinchu, TWN)
,
TAZLAUANU Mihai
(Quake Technol. Inc., ON, CAN)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
53
号:
2
ページ:
235-241
発行年:
2006年02月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)