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文献
J-GLOBAL ID:200902249524499479   整理番号:06A0370645

対向ターゲット直流スパッタリングによるSi(111)上半導体β-FeSi2薄膜の直接エピタキシャル成長

Direct epitaxial growth of semiconducting β-FeSi2 thin films on Si(111) by facing targets direct-current sputtering
著者 (4件):
YOSHITAKE T.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
INOKUCHI Y.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
YURI A.
(Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., 6-1 Kasuga, Fukuoka 816-8580, JPN)
NAGAYAMA K.
(Dep. of Aeronautics, Kyushu Univ., 744 Motooka, Nishi-ku, Fukuoka 819-0395, JPN)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 88  号: 18  ページ: 182104-182104-3  発行年: 2006年05月01日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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